直讀光譜儀異?，F(xiàn)象處理
來源：杰博科技 次數(shù)： 發(fā)布時(shí)間：2018/8/11 9:08:26
直讀光譜儀異?，F(xiàn)象處理
一、異?，F(xiàn)象：激發(fā)聲音不連續(xù)，中間有間隔；邏輯控制板上紅燈亮
異常原因：這種異常現(xiàn)象多來自于輔助間隙由于長期使用內(nèi)部積灰太多，長此以往，會(huì)使輔助間隙邊緣放電，導(dǎo)致?lián)p壞，必須更新。
解決辦法：拆下激發(fā)臺(tái)下的輔助間隙，用酒精棉簽清理即可。
二、異?，F(xiàn)象：激發(fā)點(diǎn)為白點(diǎn)或灼斑
異常原因：這種情況多為氬氣純度不夠或儀器內(nèi)部管路堵塞導(dǎo)導(dǎo)致的。
解決辦法：①對(duì)于氬氣純度不夠，可以更換氣瓶或?qū)鍤鈨艋鲀艋街偕?；②?duì)于儀器內(nèi)部管路堵塞問題，可以對(duì)氬氣管路進(jìn)行檢查、清理，重點(diǎn)應(yīng)放在激發(fā)臺(tái)下“U”型管和其上的電磁閥部分，該部分管路較細(xì)，易發(fā)生堵塞；③廢氣排氣管堵塞也會(huì)導(dǎo)致上述現(xiàn)象。
三、異?，F(xiàn)象：鋁的分析數(shù)據(jù)異常
異常原因：目前，各鋼廠普遍采用三氧化二鋁砂帶打磨試樣，這樣砂帶上的三氧化二鋁勢(shì)必會(huì)對(duì)鋼中鋁的分析數(shù)據(jù)帶來影響，主要表現(xiàn)在以下兩個(gè)方面：①標(biāo)準(zhǔn)化時(shí)，影響高低標(biāo)的鋁分析數(shù)據(jù)②日常分析時(shí)，對(duì)生產(chǎn)試樣的分析數(shù)據(jù)的影響。
解決辦法：①打磨標(biāo)準(zhǔn)化樣品時(shí)，應(yīng)采用舊砂帶，若采用新砂帶，需先用廢樣打磨一下，才能磨標(biāo)準(zhǔn)化樣品，然后用吸耳球吹洗表面；同時(shí)在標(biāo)準(zhǔn)化時(shí)，對(duì)鋁的強(qiáng)度值應(yīng)格外關(guān)注，發(fā)現(xiàn)偏差較大的點(diǎn)應(yīng)刪除；②在分析生產(chǎn)樣品時(shí)，同樣應(yīng)關(guān)注鋁的分析結(jié)果，出現(xiàn)偏差應(yīng)多分析幾點(diǎn)，將超差結(jié)果舍去。
四、異?，F(xiàn)象：①描跡時(shí)，多數(shù)或所有元素通道未出現(xiàn)最佳位置；②標(biāo)準(zhǔn)化時(shí)，各元素高低兩個(gè)點(diǎn)的強(qiáng)度差別不大，且校正系數(shù)αβ值異常。③濃度分析時(shí)，標(biāo)樣儀器分析值與其化學(xué)成分偏差較大。
異常原因：上述異常現(xiàn)象產(chǎn)生的原因是由于技術(shù)員或操作者在描跡時(shí)出現(xiàn)失誤，轉(zhuǎn)錯(cuò)了描跡旋鈕方向或圈數(shù)，致使出射波長偏離設(shè)置位置。
解決辦法：將如上入射狹縫復(fù)原，再重新調(diào)到儀器出廠位置，進(jìn)行描跡。
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